用途・事例

BGA欠落・ショート検査に最適なX線検査装置  (6/17改訂)

BGA欠落・ショート検査に最適なX線検査装置  (6/17改訂)

X線カメラに求められる「像倍率」「コントラスト」「フレームレート」に徹底的に磨きをかけました。微細な部分も鮮明に拡大して観察できる高像倍率、明暗を際立たせて不良個所をより見つけやすくできるハイコントラスト、動作中のワークでもなめらかなライブ画像が得られる高いフレームレート。これらによって高精度の非破壊検査が実現できます。 […]

電池・金属ケース内の検査に最適なX線検査装置 (6/17改訂)

電池・金属ケース内の検査に最適なX線検査装置 (6/17改訂)

X線カメラに求められる「像倍率」「コントラスト」「フレームレート」に徹底的に磨きをかけました。微細な部分も鮮明に拡大して観察できる高像倍率、明暗を際立たせて不良個所をより見つけやすくできるハイコントラスト、動作中のワークでもなめらかなライブ画像が得られる高いフレームレート。これらによって高精度の非破壊検査が実現できます。 コ[…]

X線非破壊検査装置導入事例(BGA、LEDのワイヤボンディングの断線など)

X線非破壊検査装置導入事例(BGA、LEDのワイヤボンディングの断線など)

BGA、CSPの欠落、ショート、ボイド、接合状態の検査 あらゆる電子機器に搭載されていると言っても過言ではないLSIのBGAやCSPの状態を透過観察することで、ショートやボイド、接合不良の有無をチェックし、さらなる品質向上に貢献します。 IC、LEDのワイヤボンディングの断線、接続不良、ワイヤ流れの検査 電子機器や電子部品のワイヤボンディングの状態チェックは、これらの製品の信頼性向上に欠[…]