卓上型
X線透過検査装置
[縦照射型]

「非破壊」で対象物の内部を観察することができるマイクロフォーカスX線検査装置。卓上サイズのコンパクト・高精細モデルから大型・高透過力モデルまで幅広くラインナップし、ご用途に応じた最適な1台を導入して頂けます。電池やコンデンサの内部検査、BGA欠落検査、線材の断線検査といった工業分野はもちろん、各種標本の内部観察など医学・生物学分野における非破壊検査にもお使い頂けます。例えば、ECUなどに使われているBGA・QFN・SON・DEN・LGA・コネクタなどの目視出来ない部品の検査に用いられ、BGAのはんだショートの有無の確認やBGAボールとプリント基板のパッドのズレや大きさのバラつき、SON・DFNのはんだショートの有無の確認、QFN・LGA・コネクタのはんだショートの有無の確認や実装位置のズレなどの検査に利用されています。