用途・事例

コンデンサ試験 とは、コンデンサの性能を測るための試験です。試験の内容はJIS C 5101-1:2019やIEC 60384-1:2016などで定められており、耐電圧試験、漏れ電流測定試験、破壊試験などを行います。
タンタルコンデンサやセラミックコンデンサでは耐電圧試験が行われます。信頼性の確保を目的として定格の1.5~2倍程度の電圧で試験を行うため、一般的な電源よりも高い電圧をかけられる高圧電源が必要になります。

漏れ電流測定試験では、一定の電圧を印加した際に流れる電流の量を測定します。漏れ電流を測定するためには、高圧電源を使用して高い電圧をかけ、その際に漏れた電流を測定します。
破壊試験では対象のコンデンサに定格以上の電圧をかけていき、どの電圧で故障するかを試験します。コンデンサが破壊されるとき、回路はショート状態になるなど、過電流が流れて非常に危険な状態となります。しかし松定プレシジョンでは、過電流時に出力をカットオフする保護機能を備えているモデルも揃えています。
また、松定プレシジョンでは、破壊試験だけでなく、さまざまな種類のコンデンサ試験に使用できる高圧電源を取り扱っています。

コンデンサ試験 耐電圧試験回路図
耐電圧試験回路図
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