パルス静電応力法（PEA法） 表面分析 フローティング電源 PETスキャナー X線フラットパネルディテクター（FPD） X線回折（XRD） X線結晶構造解析 X線光電子分光法（XPS） X線分析 X線粉末回折（XRD） イオンポンプ 蛍光X線（XRF） 高圧電源 コンデンサ試験 質量分析（MASS） 静電レンズ 走査型電子顕微鏡（SEM） 電気泳動 電子顕微鏡 電子線リソグラフィ（Electron Beam Lithography） 電離箱 透過型電子顕微鏡（TEM） 非破壊検査（NDT） 分光測定 分析用X線 マンモグラフィ
0120-747-636