- イオナイザー(静電気除電器)
- イオンビーム
- イオンミリング
- イオン注入
- X線回折(XRD)
- X線分析
- X線光電子分光法(XPS)
- X線検出器
- X線フラットパネルディテクター(FPD)
- 加速器
- カーブトレーサ
- 蛍光X線(XRF)
- 高電圧アンプ
- 自動試験装置(ATE)
- 集束イオンビーム(Focused Ion Beam: FIB)
- 常温ウェーハ接合/表面活性化接合(SAB)
- 真空プラズマ処理
- 真空計
- スパッタリング
- 静電チャック
- 静電レンズ
- 静電浮上
- 絶縁試験
- 絶縁破壊試験
- 走査型電子顕微鏡(SEM)
- ダブルパルス試験
- 太陽光発電(PV)
- 電気泳動
- 電気自動車(EV: Electric Vehicle)
- 電子ビーム
- 電子ビーム蒸着
- 電子ビーム溶接
- 電子顕微鏡
- 電子線リソグラフィ(Electron Beam Lithography)
- 透過型電子顕微鏡(TEM)
- パワーアンプ
- バーンイン (Burn-in)
- 半導体製造装置
- 非破壊検査(NDT)
- 物理蒸着(PVD)
- 放電プラズマ焼結法(SPS法)
- マイクロ波発生器
- めっき
- ラングミュアプローブ
- ランプ(人工光源)
- リチウムイオン電池(Li-Ion Battery: LIB)
- ロックインサーモグラフィ
- AQG324規格
- FABガン
- FPD(LCD、有機EL、LED)製造装置
- RF電源(高周波電源)
用途・事例