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お知らせ・イベント情報

第35回 エレクトロテスト ジャパン出展ご来場御礼

  • お知らせ

2021.1.25
2021年1月20日から22日に幕張メッセ（国際展示場）で開催されました第35回 エレクトロテスト ジャパン（同時開催：第35回ネプコンジャパン）にて、ご多忙中にもかかわらず、当社ブースにご来場いただきまして、誠にありがとうございました。 皆様のおかげをもちまして、盛況のうちに展示会を執り行うことができましたことを心よりお礼申し上げます。

当日はご説明が至らなかった点もあったかと存じますが、ご容赦頂けますと幸甚でございます。ご意見やご質問等がございましたら、お気軽に下記のお問い合わせフォームよりご一報賜りますようお願い申し上げます。

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今後とも皆様のご期待に沿えますよう、社員一同、より一層の技術力向上に努める所存でございます。末永くご愛顧頂きますよう、宜しくお願い申し上げます。

第35回 エレクトロテスト ジャパン出展ご来場御礼

主な出展製品

X線検査装置　precision µB3600の写真です。
  • 新製品

コンパクトボディ×高画質
X線検査装置　precision µB3600

H650mm／W500mm以下の小型ながら、据置型に迫る撮影が可能。
高分解能・長寿命・ハイパワーで高画質な卓上型X線検査装置。
X線検査装置　precision µX7800の写真です。
  • 新製品

スリムボディ×幅広い倍率レンジ
X線検査装置　precision µX7800

大型サンプルの出入れが簡単な大開口ドアと、幅広い倍率レンジで、多彩な撮影が可能。
X線CTシステム　Precision CT7400の写真です。

最適な撮影条件をフルオート設定
X線CTシステム　Precision CT7400

ボタン1つでX線管電圧やX線管電流といった撮影条件をフルオートで設定できる横型照射X線CT対応検査装置です。直感的なユーザーインターフェイスなうえ、ローリングスキャン採用で撮影時間を大幅削減できます。
新型 走査電子顕微鏡　Precision SEM 5600写真です。
  • 新製品

自動ステージ搭載で操作性が向上
新型 走査電子顕微鏡　Precision SEM 5600

松定プレシジョン独自技術により、従来の汎用SEMでは難しい低加速電圧の高分解能な観察を可能にしました。高加速電圧による試料表面近傍の内部情報の取得はもちろん、試料最表面の高分解能な観察まで、様々なユーザーの使用目的に対応することができます。