• Precision SEM 3500
  • Precision SEM 3500

NEWPrecision SEM 3500

業界初のDual Lens構造を採用

ハイレゾ低加速走査電子顕微鏡

  • Dual Lens SEM特許取得済

業界初のDual Lens SEM。汎用SEMの使い勝手とFE-SEMレベルの性能を両立

PrecisionSEM3500の特徴をこちらの動画でご紹介します。ご覧ください。

特長

高い技術を誇る独自の大電流・高安定・低ノイズ電源によって実現した新しい走査電子顕微鏡

低加速ハイレゾSEMの照射電圧の画像や反射電子検出器像などサンプル撮影画像です。
ハイレゾ低加速走査電子顕微鏡PrecisionSEM3500の本体画像です。

測定試料・箇所に合わせた3つの測定方法

汎用SEMの使い方だけでなく、独自に開発した高性能対物レンズにより、測定試料に合わせた3通りの使い方ができます。

ハイレゾ低加速SEM

表面構造をより細かく観察できるハイレゾ低加速SEM。 ボトムレンズ使用時、試料に負電圧を印加するリターディング法を用いることで、低加速で高分解能な画像が得られます。これにより物質表面の解像度が向上しました。

高分解能SEM

より高分解能に観察できる高分解能SEM。 ボトムレンズを採用したことにより、レンズと試料の距離を近づけることができました。 これにより一般的なタングステンSEMよりも高分解能な画像が得られます。

高分解能Dual Lens

トップレンズとボトムレンズを併用することにより、被写界深度を細かく設定できるようになりました。この機能により、表面が凸凹した試料でも、撮影したい箇所を鮮明にすることが可能です。

PrecisionSEM3500の撮影領域(分解能-被写界深度関係図)

弊社独自開発Dual Lens SEMによって、一般的な汎用SEMの領域を超えた撮影を可能にしました。

Dual Lens SEMは汎用SEM以外にも高分解能SEMや高分解能Dual Lens、分解能が高いハイレゾ低加速SEMが撮影領域です。

ダウンロード

ダウンロードには会員登録が必要です。

本サイトでは、取扱説明書等の資料は全て最新版のみを公開しています。お持ちの製品によっては資料の版が異なる場合もありますのでご了承ください。

未登録の方はこちら

新規会員登録(無料)

会員の方はこちら

ログイン

顕微鏡/デジタルカメラ

顕微鏡/デジタルカメラに関する製品を探す