透過型電子顕微鏡（TEM）

透過電子顕微鏡（Transmission Electron Microscope：TEM）は、電子顕微鏡の一種で、可視光を利用した光学顕微鏡よりも高い分解能を持ち、細かい部分まで観察することができます。透過電子顕微鏡の特徴は、数百倍～数百万倍という非常に広い倍率を一つの装置でカバーできることです。
さらにＸ線分析装置や電子線エネルギー損失分光装置と併せて使用すれば、微小部の元素分析や電子回折図形からの状態解析も可能になります。これにより、生物の微細構造の観察や解析、各種材料や半導体の構造、機能、不良、欠陥などの観察ができるようになりました。

電子顕微鏡には、透過電子顕微鏡（TEM）の他に走査電子顕微鏡（SEM）があります。SEMは試料の表面に電子線を走らせるのに対し、TEMでは厚さ100nm以下の薄く切った試料に電子線を透過させて試料を観察します。

透過電子顕微鏡（TEM）では、電子銃から発射された電子を加速管や電子レンズなどを通して試料に照射します。また原子レベルの観察を行うため、試料を置く試料室は真空の管になっています。

松定プレシジョンでは、電子銃用の電源や、加速用の電源、レンズ用の電源、検出器用の電源など、低電圧から高電圧まで幅広く取り揃えています。