X線結晶構造解析

X線結晶構造解析はX線回折ともよばれ、X線が結晶格子に入射すると回折現象を示すことを利用した分析装置です。回折のピークの位置を測定し、結晶方位における格子面間隔を計算します。

結晶構造は物質により異なるため、X線が結晶格子で回折する散乱角は物質固有になります。この性質を利用して、X線結晶構造解析は主に無機化合物がどのような化合物であるかを分析するために使用されます。

また結晶構造を解析するため、同一の化合物でも結晶構造の違いや配向性などを分析できます。そのためX線結晶構造解析は化学結合の観察や化学分析に利用されています。

X線結晶構造解析では非晶質であるアモルファスなどは解析が難しく、特別な装置を必要とします。

松定プレシジョンでは、X線結晶構造解析でX線を発生させるためのX線管用電源を製造しています。フィラメント加熱用電源、熱電子の加速用電源、またそれらを一体型にした複合電源など、多くの種類の電源を取りそろえています。

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