X線粉末回折（XRD）

X線粉末回折（XRD）はX線結晶構造解析（X線回折）の一種で、特に鉱物の粉末に対して、鉱物の種類を判別するために行われる解析です。

X線が結晶格子に入射すると、回折現象を示します。結晶格子の結晶方位の構造は物質によって異なるため、X線が結晶格子で回折する散乱角は物質特有になります。X線粉末回折ではこの性質を利用し、主に無機化合物の同定を行います。
またX線粉末回折は化学結合を化学分析するため、同一化合物でも結晶構造の違いや配向性まで分析することができます。

一方、X線粉末回折は結晶構造を分析する解析であるため、非晶質であるガラスやアモルファス粉末については、解析が困難になります。 X線粉末回折では、粉末にX線を照射して解析を行います。

松定プレシジョンでは、XRD用X線管に使用できる陽極接地型高電圧電源や検出器用の電源など幅広く取りそろえています。